1. ......................
پدیدآورنده : Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
2. Advanced simulation and test methodologies for VLSI design
پدیدآورنده : Russell, Gordon.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
R88
1989
3. Advanced simulation and test methodologies for vlsi design
پدیدآورنده : Russell, Gordon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits-very large scale integration Design and construction -- Data processing, Computer Aided design, Integrated circuits-very large scale integration Testing, Integrated circuits-very large scale integration Simulation methods
رده :
TK
7874
.
R77
4. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI /
پدیدآورنده : edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Computer-aided design,Expert systems (Computer science),Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing
رده :
TK7874
.
A416
1992
5. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI
پدیدآورنده : edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Design and construction -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Computer-aided design,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
A416
1992
6. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
7. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
8. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : by Narinder Singh
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
9. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده : / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
TK5103
.
452
.
E95
2004
10. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده : / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
TK5103
.
452
.
E95
2004
11. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده : / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Code division multiple access,Mobile communication systems , Equipment and supplies,Integrated circuits , Very large scale integration,Radio circuits,Electronic books. , local
رده :
E-BOOK
12. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده : / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
E-BOOK
13. An introduction to logic circuit testing /
پدیدآورنده : Parag K. Lala
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
14. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques
پدیدآورنده : Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
۴ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
15. Deep-Submicron CMOS ICs :
پدیدآورنده : by H.J.M. Veendrick.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Computer engineering.,Engineering.,Systems engineering.
رده :
TK7874
.
B945
2000
16. Deep-submicron CMOS-ICs :
پدیدآورنده : Harry Veendrick.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.,Application-specific integrated circuits.,Metal oxide semiconductors, Complementary.
رده :
TK7871
.
99
.
M44
V44
1998
17. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده : edited by R.E. Massara
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction,، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing,، Integrated circuits -- Wafer-scale integration -- Design and construction,، Integrated circuits -- Wafer-scale integration -- Testing
رده :
TK
7874
.
D4749
18. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده : edited by R.E. Massara
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integratation - Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
19. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده : edited by R.E. Massara
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه حکیم سبزواری (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
D4749
1989
20. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Testing
